会议通报了总台党组2022年度民主生活会整改措施落实情况。 慎海雄代表总台党组作对照检查，围绕理论学习、政治素质、能力本领、担当作为、工作作风、廉洁自律六个方面，深入检视问题，深刻剖析典型案例，明确改进措施。 随后，慎海雄带头作个人对照检查，开展批评和自我批评。 王晓真、胡劲军、邢博逐一进行对照检查、作自我批评。 材料分析 贵金属材料主要原料为贵金属，其中，贵金属催化材料的主要原料为钯、铑、铂等铂族金属;电接触材料的主要原材料为白银。
本會已認證金屬合金類材料與製品「元素分析」測試實驗室超過70家，主要測試範圍為針對碳鋼、低合金鋼及不鏽鋼之碳、矽、錳、磷、硫、鎳、鉻、銅…等元素具有對應檢測能力，而申請的檢測方法多以CNS、ASTM及JIS為主。 有關本會相關認證實驗室的資訊，可由本會官網認證名錄資訊中檢索獲得。 破損分析的流程破損分析步驟如圖一所示，包括：1.背景資料的收集和試樣的選擇：(a)資料的收集應包括：設計的規格、材料的選用以及生產製程等細節，甚至對於經過相關測試工作的零件，也必須同時紀錄其測試的條件。 (b)破壞零組件的外觀須詳細紀錄，可以繪圖或照相的方式記錄其破壞的程度﹙如樣品外觀、位置、形狀、破壞外觀等﹚。
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贵金属材料制造主要成本来源于贵金属采购，从贵研铂业各类材料成本结构来看，贵金属成本占前驱体材料成本比重高达99%，其他贵金属材料制造成本中，贵金属占比也均超过90%。 材料分析2023 因此，贵金属价格波动是公司主营业务成本、主营业务收入波动的主要因素之一。 鍛造流線，金屬熱鍛後會形成纖維組織，即塑性雜質延伸長方向呈纖維狀分布，使金屬組織呈一定的方向性，這種因鍛造而使金屬形成的具有一定方向性的組織稱為鍛造流線。 流線分布可根據鍛造工藝改進進行最佳化，良好的流線可以使鍛件機械性能更好。 相反，如果流線有重大缺陷，如亂流、穿流、金屬流線亂等現象出現，會影響的鍛件力學性能。 夾雜物是在軋製或其他金屬成型過程中污染金屬表面的異物。
應變超過降伏點後，因為差排離開科氏氣團（英語：Cottrell atmosphere），曲線會略為下降。 若繼續變形，會因為應變硬化（英語：Strain hardening]]]）而使應力增加，直到到達極限拉伸強度為止。 此階段的應力和應變成正比，遵守胡克定律，其斜率即為楊氏模量。
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化学信息可以由材料本身表现出来，但多数情况下则需由作为探针的电子、光子、离子或中性原子与样品通过某种相互作用来获取。 常见的用于固体材料化学分析的技术包括光电子能谱，俄歇电子谱，核磁共振，特征X－射线分析，二次离子质谱，能量损失谱，溅射中性粒子质谱，各类粒子散射谱以及扫描隧道谱学等等。 这些方法依据的物理原理不同，探测方式和仪器构造不同，获得的化学信息的侧重点和可靠性不同，适应的研究对象也不同。 需要指出的是，一种方法探测的信号其反映的材料的物理和化学方面的信息是多方面的，有些信息需要通过调整运行参数予以突出或通过不同条件下的测量加以比较才能够提取的。
另外其对多数元素的探测灵敏度为0.1%~1.0%（原子摩尔分数）。 此外电子束轰击损伤和电荷积累问题也限制了其在有机材料、生物样品和一些陶瓷材料中的应用。 一是定点分析，对样品表面选定微区进行扫描分析；二是线扫描分析，可以对样品表面选定的直线进行元素定性定量分析；三是面扫描分析，可以获得某种元素质量分布的扫描图像。 由于EDX通常是SEM或者TEM的附件，因此，采用EDX进行元素分析的一大优势就是可视化操作，非常直观。 邹本东等[19]等就使用该方法测定了褐煤中锗和一些主要成灰元素。 作者选取了适宜的仪器工作条件、选择了无干扰的分析谱线和合理地扣除了光谱背景，样品灰化后用HNO3/HF/HClO4混合酸消解，测定结果与国标方法吻合。
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可以想见，STM元素分析能够达到其它技术无可比拟的空间分辨率。 这里我们不作详细的讨论，而只借助两个例子给以简单的描述。 一束具有一定能量的电子入射到固体上，由于其同固体原子，尤其是其中的电子，发生强烈的相互作用导致部分能量的损失，其中某些损失的能量值是关于固体特征的，因而可以用来分析固体的某些特征。 这种电子谱学就被称为电子能量损失谱学 (Electron Energy Loss Spectroscopy, EELS)。 一開始對於”材料系”並不瞭解，隨著大學各種課程的實做與介紹，才對”材料”的定義有進一步的認知。
國立清華大學物理系學士（1977），國立清華大學材料所碩士（1979），美國喬治亞理工學院材料所博士。 西元 1975 年，微波加熱首次被用在化學實驗室中常壓下的消化(Digestion)，使得原本需耗時 1~2 hrs 的前處理工作縮短至 15 分鐘以內完成，有效減少了整個化學分析的時間。 材料分析 例如，於2018年初，電池市場預測2025年鋰的需求將從40%升至60~70%，又或者是，金屬粉末原料的供應短缺。 將來，我們將面對的不僅是成本問題，更是可能會遭遇到沒有原料可以使用的情形。
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同电子相比，X－射线在固体内的自由程大得多，EDX方法探测的信息深度由初始电子束的能量决定，一般地在微米量级，所以EDX是一种体材料分析方法。 俄歇电子谱(Auger electron spectroscopy, AES)是以法国科学家Pierre Auger发现的一个现象命名的。 1920年Auger在用云室研究α-粒子与原子碰撞时发现产物中某种带电粒子的圆形轨迹的半径不依赖于α-粒子的初始能量，而只同原子的种类有关。 后来进一步的研究发现，这种带电粒子是由原子中激发出来的电子，其动能仅由原子的电子能级所决定。
- 常見的夾雜物顆粒包括氧化物(Oxide)、硫化物(sulfide)或矽酸鹽(silicate)。
- 如果绝缘体材料是粉末的话，另外一个选择就是把粉末压入金属铟形成薄层再分析。
- 研究成果，不僅於國內居領先地位，在國際上亦備受肯定。
- OES有着很高的精确度，相对标准偏差（%RSD）只有1%或更低。
- 同电子相比，X－射线在固体内的自由程大得多，EDX方法探测的信息深度由初始电子束的能量决定，一般地在微米量级，所以EDX是一种体材料分析方法。
為了要克服這種阻礙，需要加較大的臨界分解剪應力（英語：resolved shear stress）。 在應變累積時，材料也就在進行加工硬化，一直到應力到達極限強度為止。 右圖是室溫下低碳鋼的應力-應變曲線，曲線的不同階段有不同的特性，也有不同的機械性質。 而其他材料也可能會省略其中的一些階段，或是出現其他的階段。 近年來，無論國家考試（高考、普考、專技、特考）或大學研究所（碩士、博士）之入學考均將「工程材料」列為必考科目，顯示工程材料日趨重要，在土木職系（科系）中佔有相當之份量。 有鑑於此，筆者特別蒐集近十年來各項國家考試及大學研究所之熱門考題，參考各出題委員之相關資料，依據考試作答模式編著成「工程材料試題分析」一書，供參加上述考試人員參考，相信能為考試人員助一臂之力。
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其斷裂面大多由「潛在劈裂破壞面」構成，常見於大型調質鋼或攝氏零下數十度的環境中的一般結構用鋼等。 應用材料提供的檢測、檢查與量測技術，使現今最具挑戰的材料與元件工程設計，得以準確和完整地實現漸趨困難的測量與成像。 這些技術包含光學近似修正光罩鑑定、雙重及四重自對準圖案化。 先進的光學與電子束技術搭配高等演算法與機器學習，可增強產生數據的能力並有助於加速取得可操作的資訊，讓晶片製造商能夠縮短上市時間並最佳化大批量生產的良率。
每一种方法应用的产出，都端赖研究者本人在这方面的知识的深度与广度。 虽然许多方法已经非常成熟，但材料化学分析方法一直是一个不断丰富自己，不断产出新思想的科学领域。 随着相关学科的发展和要求的提高，各种分析方法都在不断改进和提高其分析能力，不断扩展其应用范围。 卢瑟福背散射谱(Rutherford backscattering spectrometry, RSB)因最先确立原子核概念的物理学家Rutherforde而得名。 通过分析碰撞后探针离子随能量的分布来分析固体表面层(深达几微米)的化学成分。
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他使用的是澳大利亚GBC公司Avanta PM型原子吸收分光光度计。 首先作者制定了待测元素的校准曲线，然后对通过酸消解处理的蔬菜样品进行了测定，通过校准曲线计算了相应元素的含量。 试验表明加标回收率在94.0%~106%之间，这也说明方法准确可行。
这就是离子散射谱(ion 材料分析2023 scattering spectrometry, ISS)的原理。 这类仪器的结构由放置在真空室内的离子源，靶台和多道离子能量分析器(有时要求是可移动的)构成。 原子的最显著最直观的特征是原子的质量，虽然一种元素可以有数种同位素，但同位素分布窄，且多数情况下只有一个质量数的同位素丰度(abundancy)很大，所以一般地仍允许明晰地辨别原子。 电子能谱分析法是采用单色光源或电子束去照射样品，使样品中电子受到激发而发射出来，然后测量这些电子的产额（强度）与能量的分布，从而获得材料信息。 电子能谱的采样深度仅为几纳米，所以其仅是表面成分的反应[29]。 本文主要介绍应用较为广泛的俄歇电子能谱法和X射线光电子能谱法。
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另外，溅射产生的中性粒子对固体表面成分的依赖较二次离子为弱，因此量化的可靠性得到改善。 其理论基础是，当长程扩散不严重时，各类粒子溅射产率(约99％为中性粒子)和在溅射达到平衡后材料的体组分成正比的。 同SIMS相比，离化过程后推到粒子脱离固体以后，离化效率仅依赖所用的后离化方法，因而是可控的。 因此可以想见，SNMS相较SIMS，结构要复杂，多了一个后离化过程。 使用激光的后离化可以选择不同原子做共振离化；而使用等离子体的后离化稳定性差一些，且操作太复杂。
